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Le GDS Electromechanical Dynamic Cyclic Simple Shear Confined (EMDCSS-CON) est le premier appareil pour les essais de cisaillement simple. Il est capable de réaliser des essais cycliques dynamiques allant d’une faible déformation (amplitude de déformation en cisaillement de 0,005 %) à une déformation importante (amplitude de déformation en cisaillement de 10 %), ainsi qu’une large […]
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Le GDS Electromechanical Dynamic Cyclic Simple Shear Confined (EMDCSS-CON) est le premier appareil pour les essais de cisaillement simple. Il est capable de réaliser des essais cycliques dynamiques allant d'une faible déformation (amplitude de déformation en cisaillement de 0,005 %) à une déformation importante (amplitude de déformation en cisaillement de 10 %), ainsi qu'une large gamme d'essais quasi-statiques extrêmement précis. C'est le choix ultime pour une machine de cisaillement simple sans compromis avec la plus grande gamme de capacités d'essai.
L'EMDCSS-CON est fourni avec un cadre intégré (comme indiqué sur l'image) qui permet de positionner les composants du système de manière optimale.
| Caractéristiques principales | Avantages pour l'utilisateur |
|---|---|
Pression de confinement : |
Permet un contrôle complet et efficace des contraintes exercées sur les échantillons d'essai. Il est possible d'effectuer des essais de saturation, de contrôle b, de cisaillement et de cisaillement simple drainé et non drainé. L'EMDCSS-CON permet également d'effectuer un cisaillement simple dans des conditions non saturées contrôlées. |
| Contrôle actif de la hauteur : | Permet d'effectuer les tests de volume constant les plus élémentaires basés sur la hauteur fixe, conformément aux spécifications de la norme ASTM D-6528. |
| Capteur de force vertical et de cisaillement à deux axes : | Conçu pour que les forces normales et de cisaillement soient mesurées devant les guides linéaires et que les erreurs de frottement ne soient pas lues. |
Anneaux de retenue à faible frottement : | Des anneaux de retenue spéciaux à faible frottement sont fournis pour assurer le confinement latéral de l'échantillon de sol, garantissant une section transversale constante (condition k-zéro), lors de la réalisation d'essais à hauteur/volume fixes. |
Actionneurs électromécaniques à commande numérique : |
Les actionneurs électromécaniques peuvent effectuer des tests jusqu'à 1 mm à 5 Hz, avec une plus grande précision que les actionneurs pneumatiques comparables. L'alimentation secteur monophasée signifie qu'aucun bloc d'alimentation ou compresseur externe bruyant n'est nécessaire, contrairement aux systèmes pneumatiques/hydrauliques. Notre nouvelle génération de systèmes à commande numérique permet un contrôle encore plus fidèle, avec une résolution améliorée et une vitesse maximale. |
Guides linéaires de haute qualité : |
Les rouleaux croisés de 200 mm de longueur sont utilisés pour un guidage linéaire de haute précision et de grande capacité de charge qui non seulement assure la stabilité pour garantir une rotation minimale de la coiffe pendant le cisaillement, mais le fait avec un minimum de friction. Cela permet aux essais d'être un véritable cisaillement simple avec une rotation minimale de la platine d'extrémité, quelles que soient les conditions de charge appliquées. |
Rigidité de la machine et fixité du capuchon supérieur : |
La machine EMDCSS-CON a été conçue dès le départ dans un souci de rigidité, afin d'offrir des niveaux de rigidité intrinsèque et de fixité du bouchon supérieur encore plus élevés que ceux de notre EMDCSS d'origine. La conformité verticale a fait l'objet d'une attention particulière, ce qui est essentiel pour des essais DSS de haute qualité. |
Système de contrôle avancé : |
L'EMDCSS-CON utilise le même système de contrôle avancé que sa machine sœur, l'EMDCSS. Révisé fin 2018, il utilise une commande de moteur numérique de pointe qui permet de lire et de contrôler la position jusqu'à 0,000015 mm (0,015 micron). Le nouveau système de contrôle ADVDCS comprend également un modèle de conformité sophistiqué pour un contrôle adaptatif lorsque la rigidité de l'échantillon change au cours d'un test. |
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